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SID4-HR

商品编号: SID4-HR
商品品牌:
计量单位:
商品重量: 0.000 kg
商品简介: 法国Phasics (菲兹克斯)公司开发的4波横向剪切干涉波振面探测器,在光学检测、人工眼睛晶状体、生命科学等领域有广泛的应用,与传统波阵面技术不同,菲兹克斯的4波横向剪切干涉波阵面技术克服了传统波阵面探测器横向分辨率地的缺点,在保持了瞬态测量等优势的条件小,其横向分辨率可达400x300。 其独特的优势包括:快速获得被测光学系统的高分辨率的位相图、可测量高发散性光束、无色差、便于光路对光及设置 、人性化的软件设计 、专门设计的适合于光学系统及元器件测量软件及分析软件。
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波前分析仪+波前测试仪+波前传感器  PHASICS波前探测器

 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器,该仪器能够提供高分辨率的相位图,可直接测量高发散光束,光路调整方便等特点。

1.    技术特点

◆高分辨率(高达300 x400个采样点)
◆消色差
◆高动态范围
◆高灵敏度
◆操作简便
◆设计简洁紧凑
◆高性价比
 
 
2.技术优势
◆高分辨率的相位图
能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160x120个采样点,最高分辨率可达400x300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差,并能做到较高的测量重复性。
 
◆具有直接测量高发散光束的能力
我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力,并且无需额外的过渡镜(参见下图)。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差(如数值孔径高达0.75),仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。
 
SID4波前探测器
 
 
测试条件下光路系统
 
光源

准直镜

 
◆消色差
SID4探测器能够匹配CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需额外校准,也能用于多色光源。
 
◆对准方便
SID4探测器无需精确的,很繁冗的校准步骤。分析算法为校准波前探测器提供便利。当布好探测器和光源后,光路系统测试部分可以直接放在光源和SID4探测器之间。并且,也可以很容易的调整光路系统以便于测试,还省去了使用过渡镜以及用它带来的光路位置调整和相差消除的麻烦。
 
◆符合人体工程学原理
设计紧凑的SID4探测器配置了电脑和专用KALEO软件,其友好的人机界面使光学测量过程更符合人体工程学原理。
 
◆光学测量专用的KALEO软件
SID4探测器为光学测量配置了专用的Kaleo软件。该软件允许在一次测量中提供完整的测量项目的光学量值特征:相差,PSF,MTF,有效焦距等。定制的特征报告也可编辑。
 
3.    产品介绍
4.    SID4&SID4-HR参数说明
 

 
SID4
SID4-HR
孔径
3,6 x 4,8 mm²
8,9 x 11,8 mm²
空间分辨率
29,6 µm
29,6 µm
采样点/测量点
160 x 120 ( >19000 points)
400 x 300 ( >120 000 points)
波长
350 nm - 1100 nm
350 nm - 1100 nm
动态范围
> 100 µm
> 500 µm
绝对模式下精度
10 nm RMS
10 nm RMS
灵敏度
3 nm RMS
2 nm RMS
采样频率
60 fps
10 fps
重建频率
> 10Hz (高分辨率)
> 3Hz (高分辨率)
尺寸
 
49 x 35 x 110 mm
76 x 63 x 132 mm
重量
250 g
620 g

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