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菲兹克斯波阵面探测器
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菲兹克斯波阵面探测器

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商品简介: 菲兹克斯波阵面探测器
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菲兹克斯波阵面探测器

       高分辨率相位图
        菲兹克斯开发的具开创性的技术为SID4波阵面探测器提供了高分辨率位相图。标准的分辨率是160x120,高分辨率测量可达400x300。这种高分辨率使得对透镜测量的高精度和高重复精度成为可能。
        测量高发散性光束的独特能力
        我们的波阵面技术具有无需中继透镜而直接测量光学系统像差的独特功能(见下面的图)。一束经校正的光束穿过被测透镜,探测器测量透射光波阵面相对于球面的偏离。尽管经透镜后的光束可能是高度发散的(数值孔径可达0.75),但在透镜和波阵面探测器之间并不需要任何中继透镜。


SID4 波阵面探测器 – 光学装置示意图

        无色差性
        SID4波阵面探测器可在不同波长的光源下使用而无需额外的校正,范围涵盖整个相机的探测范围并可在多色光下使用。
        便于对光
        SID4波阵面探测器无需繁杂而精细的对光过程,其分析原理使得波阵面探测器的对光非常简单。在光源和探测器完成对光后,被测光学系统可直接被放入两者之间,测量可直接进行。当需测量另一个光学系统时,可直接替换被测光学系统,由于不需要中继透镜,省略了中继透镜与被测光学系统之间对光的繁琐步骤及由此可能引起的额外像差。
       人性化设计
小巧的SID4波阵面探测器,便于使用的光学测量软件及人机介面,以及一台手提电脑所组成的整个测量系统非常便于携带,安装,和使用。
       专门用于光学测量的KALEO软件
用于光学测量的SID4探测器配带专门用于光学测量的软件Kaleo。 一次测量,就可得到对被测光学系统质量的全面评估,包括其像差,PSF,MTF,以及有效焦距等参数。用户可以据此给出一个按用户要求量身定做的完整的测试报告。

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