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分类名称： 电化学ECV 扩散浓度 接触电阻测量仪 四点探针测试仪 少子寿命测试仪
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PL成像检测系统（光致发光成像检测系统）  
PL成像检测系统（光致发光成像检测系统）
澳大利亚BT Imaging公司 R3&R2-Plus PL成像检测系统（光致发光成像检测系统）
LIS-R2-Plus  
LIS-R2-Plus
LIS-R2-Plus
接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+  
接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+
接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+ 前金属化的接触电阻是对丝网印刷太阳能电池的总串联电阻的重要贡献。 具有合适测试结构的转移长度方法是将接触电阻与其他串联电阻效应分开的最佳方法。 然而，接触电阻可以在太阳能电池上显着变化，因此需要在成品太阳能电池上以空间分辨率测量它的方法。 TLM-SCAN产生太阳能电池的接触电阻率的映射，该太阳能电池用激光或切割锯切割成条纹。
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪 四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪  
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪 四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪 四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪 查看大图 四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪 这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化，可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。 在点击地图后将探头导航到所需位置后，可以重新测量单点。
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片  
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度  
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度