__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

量子效率测量系统

即时性內部量子效率测量。大幅降低紫外光領域的迷光现象，对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性的光谱解析。激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)

日本KOSAKA 台阶仪ET200：KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems

少子寿命测量仪BLS-测试硅棒

少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块\r \r 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

检测晶片瑕疵与电池效率的SWIR摄像机

标准太阳能电池 Reference Cells

太阳能电池IV特性测量系统

非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems

太阳能晶片检测

太阳能晶片检测：

太阳能晶片/电池片计数

便携的I - V光伏组件测试仪Portable I-V Testers for PV Modules

SOLAR 辐照度仪

电池和组件缺陷视测 Photovoltaic Cell Inspection System

太阳能电池专用红外热像仪Infrared Thermal imager

太阳能电池影像光谱色差检测系统(Hyperspectral Imaging System)

电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)

电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)：大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域

FastEQE 高速量子效率测试仪

Fast的测量速度，单次测量仅需要8秒钟，而传统的单色仪系统需要近8分钟才能完成相同的测量。节省时间节省空间节省工时节省成本测量太阳能电池量子效率的速度比其他任何系统快5900％专为太阳能电池的制造研发而制造

太阳能电池量子效率测试系统

太阳能电池量子效率测试系统：太阳能电池量子效率测量系统（光谱响应测试系统、IPCE测试系统），广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应，EQE外量子效率，IQE内量子效率，IPCE，相对反射率，绝对反射率，相对透射率，绝对透射率等测量和研究；匹配国际测试标准：IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测试标准；波长范围：300nm~1100nm, 可扩展至1800 nm

检测太阳能电池缺陷的EL（电致发光）图像检测

Photoluminescence(PL)

Photoluminescence (PL) PL2011是瞬渺光电研发提供的一种灵活的研发和特征分析系统。该系统具有灵活的手动负载样品平台，可以用于原切割晶圆，部分或整块地加工电池和有选择地检测块状物或部分组件单元。

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