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CVP21-RL Large sealing ring for CVP21 大密封圈

少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭

少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。

Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S

Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯，球形氙灯，产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯，球形氙灯该短弧氙灯主要应用在：太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片

深能级瞬态谱仪（Deep Level Transient Spectroscopy system）

深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、Zerbst模式、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 查理森Plot分析、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS；测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具

CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统

荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs，可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因，如：烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净，发射层是否平整均匀，电极是否有虚印、断线等等

单腔室和多腔室薄膜沉积设备

MVSystems 公司设计，制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外，根据用户的需求，各种PECVD，HWCVD，和PVD腔室可以单个制造，也可配备到现有的团簇型（星型）或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发，中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验，所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学，研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想，以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。

CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

CDE ResMap Model 468

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

WCT-120PL荧光少子寿命测试仪

分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命

太阳能电池模拟器（小面积CLASS-BBA）

这种模拟器，配备标准AM1.5个太阳光谱，均匀性好，稳定性好，可以测量小至直径1cm的太阳电池样品，具有成本低的特点。

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）是一种原子尺度的薄膜制备技术。它可以沉积均匀一致，厚度可控、成分可调的超薄薄膜。随着纳米技术和半导体微电子技术的发展，器件和材料的尺寸要求不断地降低，同时器件结构中的宽深比不断增加，这样就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。因此原子层沉积技术逐渐成为了相关制造领域不可替代的技术。其优势决定了它具有巨大的发展潜力和更加广阔的应用空间。