产品分类

浏览过的商品

总共找到1339个商品
65/67
价格 销量 人气
I-V 曲线测试仪  
I-V 曲线测试仪
MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器,可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V~ 1000V ,适用于高电压PV阵列。
ESS-200XIL 太阳光模拟器  
ESS-200XIL 太阳光模拟器
ESS-200XIL 太阳光模拟器 ESS-200XIL太阳光模拟器使用精确校准的光源,模拟自然太阳光照射。同I-V曲线测试仪配合可作为室内太阳能电池测试系统。
单腔室和多腔室薄膜沉积设备  
单腔室和多腔室薄膜沉积设备
MVSystems 公司设计,制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外,根据用户的需求,各种PECVD,HWCVD,和PVD腔室可以单个制造,也可配备到现有的团簇型(星型)或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发,中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验,所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学,研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想, 以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统  
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统
荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs,可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因,如:烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净,发射层是否平整均匀,电极是否有虚印、断线等等
Night N自适应光学相关产品  
Night N自适应光学相关产品
闭环自适应光学系统是用来纠正低阶激光光束产生的波前畸变。该系统是利用压电式变形镜作为波前校正器,利用Shack-Hartman波前传感器作为波前测量,闭环软件来控制整套校正系统。
光束诱导电流检测系统 LBIC  
光束诱导电流检测系统 LBIC
光束诱导电流检测系统 LBIC:LBIC mapping system( Light-Beam Induced Current,光束诱导电流检测系统)------是一种高分辨、非直接接触的分析手段,可以表征太阳能电池的几何结构信息、少子扩散长度等参数,以及量子效率,反射率分布表征,为太阳能电池优化结构提供参考依据,广泛应用到单晶硅、多晶硅、非晶硅、碲化镉、CIGS等各种传统或新型的太阳能电池的研究和生产。??????????麦????????????????????,

CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC  
CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
太阳能模拟器(SCD1)IV测试仪  
太阳能模拟器(SCD1)IV测试仪
这种测试仪适用于已经有光源的用户,仅采集IV数据。
台阶仪ET200/台阶仪  
台阶仪ET200/台阶仪
日本KOSAKA 台阶仪ET200:KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
变温霍尔效应测试仪Hall8686  
变温霍尔效应测试仪Hall8686
台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便,易于携带,主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)  
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL):大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
EKO MP-160 I-V曲线测试仪  
EKO MP-160 I-V曲线测试仪
EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。