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Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems

Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system)

光束诱导电流检测系统 LBIC

光束诱导电流检测系统 LBIC：LBIC mapping system( Light-Beam Induced Current，光束诱导电流检测系统)------是一种高分辨、非直接接触的分析手段，可以表征太阳能电池的几何结构信息、少子扩散长度等参数，以及量子效率，反射率分布表征，为太阳能电池优化结构提供参考依据，广泛应用到单晶硅、多晶硅、非晶硅、碲化镉、CIGS等各种传统或新型的太阳能电池的研究和生产。??????????麦????????????????????,

扩展电阻仪 (SRP)

SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针，沿着样品表面以很小的增量步进，测出每一点的扩展电阻值，绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质，而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。

变温霍尔效应测试仪Hall8686

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用

ESS-200XIL 太阳光模拟器

ESS-200XIL 太阳光模拟器 ESS-200XIL太阳光模拟器使用精确校准的光源，模拟自然太阳光照射。同I-V曲线测试仪配合可作为室内太阳能电池测试系统。

LS-100

SBS-150 少子寿命

SBS-150 少子寿命测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感，能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。

WCT-IL800

快速在线监测。实现了准确监控少子寿命，方块电阻和缺陷密度的情况。

ECV校准硅片

ECV校准硅片 CVP-CS

CVP21-HB Halogen light bulb for CVP21 UV灯泡

Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S

Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯，球形氙灯，产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯，球形氙灯该短弧氙灯主要应用在：太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片

CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）是一种原子尺度的薄膜制备技术。它可以沉积均匀一致，厚度可控、成分可调的超薄薄膜。随着纳米技术和半导体微电子技术的发展，器件和材料的尺寸要求不断地降低，同时器件结构中的宽深比不断增加，这样就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。因此原子层沉积技术逐渐成为了相关制造领域不可替代的技术。其优势决定了它具有巨大的发展潜力和更加广阔的应用空间。