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XWS-R 高亮度等离子体宽带光源  
XWS-R 高亮度等离子体宽带光源
XWS-R是在XWS-65发光源的背面位置放置反射镜,并通过在背面反射输出光来增加光谱辐亮度的XWS-65改造产品。其输出的光谱辐亮度值相当于XWS-65的约2倍。总输出功率可达到5W,是XWS-65的高输出功率版本。
台阶仪ET200/台阶仪  
台阶仪ET200/台阶仪
日本KOSAKA 台阶仪ET200:KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
量子效率测量系统  
量子效率测量系统
即时性內部量子效率测量。 大幅降低紫外光領域的迷光现象,对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。 搭配低迷光对应光谱仪,实现高感度、高稳定性的光谱解析。 激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)
Jandel通用型四探针测试仪  4探针测试系统(4 point probe measurement system)  
Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)
Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)
光伏电池板检测显微镜  
光伏电池板检测显微镜
光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜:SDMM-4000C(无穷远光学设计)
二次离子质谱仪  
二次离子质谱仪
二次离子质谱仪,是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成,其信息量也远远超过了简单的元素分析,可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中,它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析,生成一个表面成分图。
EKO MP-160 I-V曲线测试仪  
EKO MP-160 I-V曲线测试仪
EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。
CDE ResMap Model 468  
CDE ResMap Model 468
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
无制冷1310nm 边发光LED DL-US3044H  
无制冷1310nm 边发光LED DL-US3044H
边发光LED具有宽带的特性,最小3dB带宽为40nm,输出耦合功率高,并且可以高速调制到150Mhz。产品提供TO封装,适合光通讯和测试设备的应用。产品可以无需任何制冷的条件下在0-70??正常工作。
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