| Holoeye空间光调制器 | ALPAO高速变形镜 | 波前分析仪Phasics | 自适应光学系统 | 数字微反射镜 DMD 数字微镜器件 | 光学元件器件DOE |
| 光刻仪 |
| 飞秒激光器 | 皮秒激光器 | 自相关仪 | 超短脉冲测量仪Frog | 超快激光器件 |
| 高功率连续波OPO | 高功率光纤激光器 | Qioptiq NANO 激光器 | 低噪声窄线宽激光器 | 可调谐激光器 | 半导体激光器和放大器 | SLD和ASE宽带光源 | 双波长输出氦氖激光器 |
| QIOPTIQ光纤耦合半导体激光器 | Diode & DPSS_qioptiq | 激光驱动白光光源 | 等离子体宽带光源 | 单色仪 | 光谱仪 | 光栅 | 辐射计 | 防嗮系数分析 | Optogma固体激光器 | Solarlight | 波长选择器 |
| 激光准直仪 | 红外激光观察镜 | 激光功率能量计 | 光学斩波器 | 光束质量分析仪 | 位敏探测器 | 红外相机 | O/E转换模块探测器 TIA-525S |
| 太赫兹相机及源 | 太赫兹探测器 | 太赫兹元器件及晶体 | 太赫兹光谱仪 | 太赫兹功率计 |
| Optiphase | 微光MOI |
| 普克尔盒/Pockels Cells | 电光调制器/Electro-Optics Modulators | 法拉第隔离器/Faraday Isolators | SESAM半导体可饱和吸收镜 | 探测器 | EOT高速光电探测器 | 其他未分类 |
| 电化学ECV 扩散浓度 | 接触电阻测量仪 | 四点探针测试仪 | 少子寿命测试仪 |
| 平行光管 |
| 光纤跳线及配件 | 无源器件 |
| DL-CS3452A宽带SLED模块DL-CS3452A宽带SLED模块 |
| QFLD-1270-1S FP激光二极管 波长1270nmQFLD-1270-1S FP激光二极管 波长1270nm |
| DL-CS39L5B直插宽带SLED模块DL-CS39L5B直插宽带SLED模块 |
| DL-CS48H5A 宽带SLED模块DL-CS48H5A 宽带SLED模块 |
| QFBGLD-1420-150 FBG激光二极管 波长1420nmQFBGLD-1420-150 FBG激光二极管 波长1420nm |
| QFBGLD-1038-100 FBG激光二极管 波长1038nmQFBGLD-1038-100 FBG激光二极管 波长1038nm |
| DL-CS5254A宽带SLED模块DL-CS5254A宽带SLED模块 |
| DL-CS5029L双列直插宽带SLED模块DL-CS5029L双列直插宽带SLED模块 |
| DL-CS43H4A 宽带SLED模块DL-CS43H4A 宽带SLED模块 |
| 深能级瞬态谱仪(Deep Level Transient Spectroscopy system)深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段!测试功能:电容模式、定电容模式、电流模式、(双关联模式)、Zerbst模式、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 查理森Plot分析、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS; 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容(△C~t)技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱,是一种具 |
| DL-CS58M7A宽带SLED模块DL-CS58M7A宽带SLED模块 |
| DL-CS5169A 宽带SLED模块DL-CS5169A 宽带SLED模块 |
| DL-CS3307A 宽带SLED模块DL-CS3307A 宽带SLED模块 |
| | QPhotonics QFBGLD-808-5 FBG激光二极管 波长808nmQPhotonics QFBGLD-808-5 FBG激光二极管 波长808nm |
| 霍尔效应测试仪霍尔效应测试仪:主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助 |
| QFLD-1010-50S FP激光二极管 波长1010nmQFLD-1010-50S FP激光二极管 波长1010nm |
| QFBGLD-915-5 FBG激光二极管 波长915nmQFBGLD-915-5 FBG激光二极管 波长915nm |
| 台阶仪ET200/台阶仪日本KOSAKA 台阶仪ET200:KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 |