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FastEQE 高速量子效率测试仪  
FastEQE 高速量子效率测试仪
Fast的测量速度,单次测量仅需要8秒钟,而传统的单色仪系统需要近8分钟才能完成相 同的测量。 节省时间 节省空间 节省工时 节省成本 测量太阳能电池量子效率的速度比其他任何系统快5900% 专为太阳能电池的制造研发而制造
EKO MP-160 I-V曲线测试仪  
EKO MP-160 I-V曲线测试仪
EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。
日照强度计,带有空气流通系统  
日照强度计,带有空气流通系统
日照强度计MS-802/402/602用于测量大气中接受到的太阳照射能量。传感器采用对全波段都有平整光谱响应的温差热电堆。当日照辐射被传感器的黑体表面吸收,由于冷/热连接点的温差导致热-电效应,热电堆产生电信号。
原子层沉积技术(Atomic Layer Deposition)  
原子层沉积技术(Atomic Layer Deposition)
原子层沉积技术(Atomic Layer Deposition)是一种原子尺度的薄膜制备技术。它可以沉积均匀一致,厚度可控、成分可调的超薄薄膜。随着纳米技术和半导体微电子技术的发展,器件和材料的尺寸要求不断地降低,同时器件结构中的宽深比不断增加,这样就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。因此原子层沉积技术逐渐成为了相关制造领域不可替代的技术。其优势决定了它具有巨大的发展潜力和更加广阔的应用空间。
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)  
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL):大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
台阶仪ET200/台阶仪  
台阶仪ET200/台阶仪
日本KOSAKA 台阶仪ET200:KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
量子效率测量系统  
量子效率测量系统
即时性內部量子效率测量。 大幅降低紫外光領域的迷光现象,对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。 搭配低迷光对应光谱仪,实现高感度、高稳定性的光谱解析。 激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)
IQE-SCAN 光谱量子效率  
IQE-SCAN 光谱量子效率
IQE-SCAN 光谱量子效率和反射该工具专为自动IQE分析而设计\r 晶体硅太阳能电池
太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)  
太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)
太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, \r Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,\r Power Convert Efficiency\r 采用KEITHLEY Source Meter\r 可加配任意品牌之太阳光模拟器
便携式IV测试仪 太阳模拟器  
便携式IV测试仪 太阳模拟器
便携式IV测试仪,太阳模拟器,可以测组件。
PROVA-200太阳能电池分析仪  
PROVA-200太阳能电池分析仪
PROVA-200太阳能电池分析仪:单晶片I-V特性曲线测试 \r 可找出太阳能模组最大功率的工作点 (Vmaxp, Imaxp) \r 量测最大功率时 (Pmax) 的最大电压 (Vmaxp) 最大电流 (Imaxp) \r 量测开路电压 (Vopen) 与短路电流 (Ishort) \r 移动指标可显示I-V特性曲线每一点的特性值 \r 可选购携带式印表机将图形与特性值直接复制下来 \r 在标准光源下可直接显示太阳能电池的转换效率??%) 与FF值 \r 可以自动扫瞄或单点测试
光伏电池板检测显微镜  
光伏电池板检测显微镜
光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜:SDMM-4000C(无穷远光学设计)